雪崩二極管和PIN光電二極管的區(qū)別
2021-01-12 17:18:31閱讀量:2376
PIN: 光敏面接收對(duì)應(yīng)波長的光照時(shí),產(chǎn)生光生電流;
雪崩光電二極管(APD):除了和PIN相同部分外,多了一個(gè)雪崩增益區(qū),光生電流會(huì)被放大,
放大的倍數(shù)稱為雪崩增益系數(shù)。當(dāng)然同時(shí)也會(huì)產(chǎn)生噪聲電流。
PIN光電二極管、雪崩光電二極管均屬于半導(dǎo)體光電探測器,所使用的材料一樣,光譜響應(yīng)范圍也一樣。PIN光電二極管優(yōu)點(diǎn)在于響應(yīng)度高響應(yīng)速度快,頻帶也較寬工作電壓低,偏置電路簡單在反偏壓下可承受較高的反向電壓,所以線性輸出范圍寬不足之處在于I層電阻很大管子的輸出電流小,一般多為零點(diǎn)幾微安至數(shù)微安。所以PIN光電二極管通常接有前置放大器。
雪崩光電二極管是具有內(nèi)部增益光電探測器,雪崩增益雖比光電倍增管PMT小的多,但仍使APD的靈敏度比PIN光電二極管高的多,解決了PIN光電二極管靈敏度低的問題,在高速調(diào)制微弱信號(hào)檢測時(shí)其優(yōu)點(diǎn)便更加明顯,但由于其增管效益,信號(hào)中的噪聲也會(huì)同時(shí)被放大,且其增益系數(shù)受溫度影響必要時(shí)還需采用溫度補(bǔ)償措施。較之APDPIN,光電二極管對(duì)溫度不敏感適用場合受限制較少,所以絕大多數(shù)系統(tǒng)均采用PIN光電二極管,但在信號(hào)損耗過大光信號(hào)過于微弱或長距離傳輸?shù)葪l件下,APD就很有必要。
影響PIN光電二極管的影響因素
穩(wěn)壓二極管的雪崩效應(yīng)
當(dāng)一個(gè)半導(dǎo)體二極管加上足夠高的反向偏壓時(shí),在耗盡層內(nèi)運(yùn)動(dòng)的載流子就可能因碰撞電離效應(yīng)而獲得雪崩倍增。人們最初在研究半導(dǎo)體二極管的反向擊穿機(jī)構(gòu)時(shí)發(fā)現(xiàn)了這種現(xiàn)象。當(dāng)載流子的雪崩增益非常高時(shí),二極管進(jìn)入雪崩擊穿狀態(tài);在此以前,只要耗盡層中的電場足以引起碰撞電離,則通過耗盡層的載流子就會(huì)具有某個(gè)平均的雪崩倍增值。
碰撞電離效應(yīng)也可以引起光生載流子的雪崩倍增,從而使半導(dǎo)體光電二極管具有內(nèi)部的光電流增益。1953年,K.G.麥克凱和K.B.麥卡菲報(bào)道鍺和硅的PN結(jié)在接近擊穿時(shí)的光電流倍增現(xiàn)象。1955年,S.L.密勒指出在突變PN結(jié)中,載流子的倍增因子M隨反向偏壓V的變化可以近似用下列經(jīng)驗(yàn)公式表示
M=1/[1-(V/VB)n]
式中VB是體擊穿電壓,n是一個(gè)與材料性質(zhì)及注入載流子的類型有關(guān)的指數(shù)。當(dāng)外加偏壓非常接近于體擊穿電壓時(shí),二極管獲得很高的光電流增益。PN結(jié)在任何小的局部區(qū)域的提前擊穿都會(huì)使二極管的使用受到限制,因而只有當(dāng)一個(gè)實(shí)際的器件在整個(gè)PN結(jié)面上是高度均勻時(shí),才能獲得高的有用的平均光電流增益。因此,從工作狀態(tài)來說,雪崩光電二極管實(shí)際上是工作于接近(但沒有達(dá)到)雪崩擊穿狀態(tài)的、高度均勻的半導(dǎo)體光電二極管。1965年,K.M.約翰遜及L.K.安德森等分別報(bào)道了在微波頻率下仍然具有相當(dāng)高光電流增益的、均勻擊穿的半導(dǎo)體雪崩光電二極管。從此,雪崩光電二極管作為一種新型、高速、靈敏的固態(tài)光電探測器件漸漸受到重視。
性能良好的雪崩光電二極管的光電流平均增益嚔可以達(dá)到幾十、幾百倍甚至更大。半導(dǎo)體中兩種載流子的碰撞離化能力可能不同,因而使具有較高離化能力的載流子注入到耗盡區(qū)有利于在相同的電場條件下獲得較高的雪崩倍增。但是,光電流的這種雪崩倍增并不是絕對(duì)理想的。一方面,由于嚔隨注入光強(qiáng)的增加而下降,使雪崩光電二極管的線性范圍受到一定的限制,另一方面更重要的是,由于載流子的碰撞電離是一種隨機(jī)的過程,亦即每一個(gè)別的載流子在耗盡層內(nèi)所獲得的雪崩增益可以有很廣泛的幾率分布,因而倍增后的光電流I比倍增前的光電流I0有更大的隨機(jī)起伏,即光電流中的噪聲有附加的增加。與真空光電倍增管相比,由于半導(dǎo)體中兩種載流子都具有離化能力,使得這種起伏更為嚴(yán)重。
式中q為電子電荷,B為器件工作帶寬,F(xiàn)(嚔)表示雪崩倍增過程所引起噪聲的增加,稱為過剩噪聲因子。一般情況下,F(xiàn)隨嚔的變化情況相當(dāng)復(fù)雜。有時(shí)為簡單起見,近似地將F表示為F=嚔x,x稱為過剩噪聲指數(shù)。F或x是雪崩光電二極管的重要參數(shù)。
雪崩光電二極管(APD):除了和PIN相同部分外,多了一個(gè)雪崩增益區(qū),光生電流會(huì)被放大,
放大的倍數(shù)稱為雪崩增益系數(shù)。當(dāng)然同時(shí)也會(huì)產(chǎn)生噪聲電流。
PIN光電二極管、雪崩光電二極管均屬于半導(dǎo)體光電探測器,所使用的材料一樣,光譜響應(yīng)范圍也一樣。PIN光電二極管優(yōu)點(diǎn)在于響應(yīng)度高響應(yīng)速度快,頻帶也較寬工作電壓低,偏置電路簡單在反偏壓下可承受較高的反向電壓,所以線性輸出范圍寬不足之處在于I層電阻很大管子的輸出電流小,一般多為零點(diǎn)幾微安至數(shù)微安。所以PIN光電二極管通常接有前置放大器。
雪崩光電二極管是具有內(nèi)部增益光電探測器,雪崩增益雖比光電倍增管PMT小的多,但仍使APD的靈敏度比PIN光電二極管高的多,解決了PIN光電二極管靈敏度低的問題,在高速調(diào)制微弱信號(hào)檢測時(shí)其優(yōu)點(diǎn)便更加明顯,但由于其增管效益,信號(hào)中的噪聲也會(huì)同時(shí)被放大,且其增益系數(shù)受溫度影響必要時(shí)還需采用溫度補(bǔ)償措施。較之APDPIN,光電二極管對(duì)溫度不敏感適用場合受限制較少,所以絕大多數(shù)系統(tǒng)均采用PIN光電二極管,但在信號(hào)損耗過大光信號(hào)過于微弱或長距離傳輸?shù)葪l件下,APD就很有必要。
影響PIN光電二極管的影響因素

穩(wěn)壓二極管的雪崩效應(yīng)
當(dāng)一個(gè)半導(dǎo)體二極管加上足夠高的反向偏壓時(shí),在耗盡層內(nèi)運(yùn)動(dòng)的載流子就可能因碰撞電離效應(yīng)而獲得雪崩倍增。人們最初在研究半導(dǎo)體二極管的反向擊穿機(jī)構(gòu)時(shí)發(fā)現(xiàn)了這種現(xiàn)象。當(dāng)載流子的雪崩增益非常高時(shí),二極管進(jìn)入雪崩擊穿狀態(tài);在此以前,只要耗盡層中的電場足以引起碰撞電離,則通過耗盡層的載流子就會(huì)具有某個(gè)平均的雪崩倍增值。
碰撞電離效應(yīng)也可以引起光生載流子的雪崩倍增,從而使半導(dǎo)體光電二極管具有內(nèi)部的光電流增益。1953年,K.G.麥克凱和K.B.麥卡菲報(bào)道鍺和硅的PN結(jié)在接近擊穿時(shí)的光電流倍增現(xiàn)象。1955年,S.L.密勒指出在突變PN結(jié)中,載流子的倍增因子M隨反向偏壓V的變化可以近似用下列經(jīng)驗(yàn)公式表示
M=1/[1-(V/VB)n]
式中VB是體擊穿電壓,n是一個(gè)與材料性質(zhì)及注入載流子的類型有關(guān)的指數(shù)。當(dāng)外加偏壓非常接近于體擊穿電壓時(shí),二極管獲得很高的光電流增益。PN結(jié)在任何小的局部區(qū)域的提前擊穿都會(huì)使二極管的使用受到限制,因而只有當(dāng)一個(gè)實(shí)際的器件在整個(gè)PN結(jié)面上是高度均勻時(shí),才能獲得高的有用的平均光電流增益。因此,從工作狀態(tài)來說,雪崩光電二極管實(shí)際上是工作于接近(但沒有達(dá)到)雪崩擊穿狀態(tài)的、高度均勻的半導(dǎo)體光電二極管。1965年,K.M.約翰遜及L.K.安德森等分別報(bào)道了在微波頻率下仍然具有相當(dāng)高光電流增益的、均勻擊穿的半導(dǎo)體雪崩光電二極管。從此,雪崩光電二極管作為一種新型、高速、靈敏的固態(tài)光電探測器件漸漸受到重視。
性能良好的雪崩光電二極管的光電流平均增益嚔可以達(dá)到幾十、幾百倍甚至更大。半導(dǎo)體中兩種載流子的碰撞離化能力可能不同,因而使具有較高離化能力的載流子注入到耗盡區(qū)有利于在相同的電場條件下獲得較高的雪崩倍增。但是,光電流的這種雪崩倍增并不是絕對(duì)理想的。一方面,由于嚔隨注入光強(qiáng)的增加而下降,使雪崩光電二極管的線性范圍受到一定的限制,另一方面更重要的是,由于載流子的碰撞電離是一種隨機(jī)的過程,亦即每一個(gè)別的載流子在耗盡層內(nèi)所獲得的雪崩增益可以有很廣泛的幾率分布,因而倍增后的光電流I比倍增前的光電流I0有更大的隨機(jī)起伏,即光電流中的噪聲有附加的增加。與真空光電倍增管相比,由于半導(dǎo)體中兩種載流子都具有離化能力,使得這種起伏更為嚴(yán)重。
式中q為電子電荷,B為器件工作帶寬,F(xiàn)(嚔)表示雪崩倍增過程所引起噪聲的增加,稱為過剩噪聲因子。一般情況下,F(xiàn)隨嚔的變化情況相當(dāng)復(fù)雜。有時(shí)為簡單起見,近似地將F表示為F=嚔x,x稱為過剩噪聲指數(shù)。F或x是雪崩光電二極管的重要參數(shù)。
由于F大于1,并隨嚔的增加而增加,因而只有當(dāng)一個(gè)接收系統(tǒng)(包括探測器件即雪崩光電二極管、負(fù)載電阻和前置放大器)的噪聲主要由負(fù)載電阻及放大器的熱噪聲所決定時(shí),提高雪崩增益嚔可以有效地提高系統(tǒng)的信噪比,從而使系統(tǒng)的探測性能獲得改善;相反,當(dāng)系統(tǒng)的噪聲主要由光電流的噪聲決定時(shí),增加嚔就不再能使系統(tǒng)的性能改善。這里起主要作用的是過剩噪聲因子F的大小。為獲得較小的F值,應(yīng)采用兩種載流子離化能力相差大的材料,使具有較高離化能力的載流子注入到耗盡層,并合理設(shè)計(jì)器件結(jié)構(gòu)。
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