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英彼森IBSP3030,LDO中的戰(zhàn)斗機

2024-04-16 14:37:26閱讀量:824

工程師朋友們,今天我們要隆重介紹一下這款芯片,它是國產超低噪聲、超高電源抑制比LDO的經典之作,非常適合用于對噪聲極度敏感的應用場景,如:紅外成像、醫(yī)療電子、超低噪聲儀表、射頻電源等。


   

它就是英彼森半導體IBSP303x系列芯片


  


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如果你使用過LDO芯片就知道,我們評估一款高性能LDO芯片有3個標準:首先是電源對噪聲的抑制比;其次是LDO自身的輸出噪聲以及對于負載變化的瞬態(tài)相應能力,最后是在高精密傳感器應用中,溫度漂移是否足夠小。


  

 

我們以對噪聲極度敏感的紅外成像應用為例,對比國外頂尖競品ADI公司的LT3042以及英彼森的3030芯片,可以發(fā)現,在使用3030芯片時,紅外成像效果呈現無噪點、無水波紋的優(yōu)秀畫質,這意味著該款芯片在綜合性能上絲毫不遜于國際頂尖競品,甚至在一些低壓差的場景下,其表現更優(yōu)。


  

 

從性能指標來看,英彼森半導體的IBSP3030芯片可以提供2.4V到20V的寬輸入電壓范圍,輸出可調,帶載能力在200mA,它可以提供低至1.5uV的積分噪聲、高至近120dB的低頻電源抑制能力,而且在高帶寬1MHz上仍然保持近80dB的電源抑制能力,在負載從零到200mA跳變的時候,3030芯片只需要4uS的恢復時間。綜合性能表現在所有低噪聲LDO芯片中絕對是頂配,堪稱LDO中的戰(zhàn)斗機。


  

 

我們接著談LDO中的戰(zhàn)斗機,實際案例經驗分享。我們的3030芯片在測試驗證的過程中,收集了超過30家客戶的典型應用條件,并且在實驗室完全覆蓋場景驗證。該款芯片在大批量量產前,嚴格按照汽車電子的設計要求,經歷了長達5000次的批量熱插拔實驗、-50度到150度的極限高低溫測試、1000個小時的加速老化測試,順利通過了嚴苛的可靠性驗證環(huán)節(jié)。

   

英彼森電性能測試實驗室


  

英彼森可靠性測試實驗室

 

  

我們的某安防大客戶,過去都是使用國外的LDO芯片,正好有個項目要尋求國產化替代,一直找不到合適的器件,時間迫在眉睫,很是苦惱。我們杭州團隊長期的跟進這次終于等到了機會,當我們推薦這款英彼森半導體的IBSP3030用于測試時,完美的匹配幫助客戶提前完成了項目,整個過程我們技術支持工程師細致的配合和及時的服務也得到一致好評。3030芯片就是憑著以上說的優(yōu)秀性能,才能留得住廣大客戶的“味覺“。

  

 

如此難得的產品,在價格和供貨速度上也有非常大的優(yōu)勢,英彼森非常樂意在實現國產化的道路上能夠幫到客戶!